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DM900NY
DM900NY按照故障發(fā)生時(shí)期分類可分為：①運(yùn)行期故障；②調(diào)試期故障。調(diào)試期故障出現(xiàn)在新裝用后調(diào)試初期主要原因是儀表選用或設(shè)定不當(dāng)安裝不妥等。運(yùn)行期故障足在運(yùn)行段時(shí)期后出現(xiàn)主要原因有流體中雜質(zhì)附著電襯里環(huán)境條件變化出現(xiàn)新干擾源等。
按故障外界源頭分析來自3個(gè)方面：①管道系統(tǒng)和安裝等方面引起的；②環(huán)境方面引起的；③流體方面引起的。來源①主要在調(diào)試期表現(xiàn)出來；來源②和③則在調(diào)試期和運(yùn)行期均會(huì)出現(xiàn)。
l Motorola（摩托羅拉）：MVME 162、MVME 167、MVME1772、MVME177等系列。
l XYCOM：I/O 、VME板和處理器等。
l GE FANUC(GE發(fā)那科)：模塊、卡件、驅(qū)動(dòng)器等各類備件。
l Yaskawa（安川）：伺服控制器、伺服馬達(dá)、伺服驅(qū)動(dòng)器。
l Bosch Rexroth（博世力士樂）：Indramat，I/O模塊,PLC控制器,驅(qū)動(dòng)模塊等。
l Woodward（伍德沃德）：SPC閥位控制器、PEAK150數(shù)字控制器。
National Instruments PCMCIA GPIB Card & 2-Meter Latching Cable, Tested!
National Instruments AT-GPIB-TNT
NATIONAL INSTRUMENTS 182330E-01 PCMCIA-GPIB
National Instruments AT-MIO-16F-5
National Instrument SCXI-1102
National Instruments DAQPad-6020E
National Instruments Manual GPIB-400
National Instruments 188841B-02 SH37F-SH37M-2
National Instruments CB-50LP 182943B-01
National Instruments 50118B-00
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